数字万用表的使用已很普及了，但在常见的电工技术方面的书中，半导体的测量方法多是使

用指针万用表，很少介绍使用数字万用表的。数字万用表和指针万用表测量半导体的方法是

不同的。
一、二极管
数字万用表二极管档开路电压约为2.8V，红表笔接正，黑表笔接负，测量时提供电流约

为1mA，显示值为二极管正向压降近似值，单位是mV或V。硅二极管正向导通压降约为

0.3~0.8V。锗二极管锗正向导通压降约为0.1~0.3V。并且功率大一些的二极管正向压降要小

一些。如果测量值小于0.1V，说明二极管击穿，此时正反向都导通。如果正反向均开路说明

二极管PN节开路。对于发光二极管，正向测量时二极管发光，管压降约1.7V左右。
二、三极管
三极管有两个PN节，发射节（be）和集电节（bc），按测量二极管的方法测量即可。在

实际测量时，每两个管脚间都要测正反向压降，共要测6次，其中有4次显示开路，只有两次

显示压降值，否则三极管是坏的或是特殊三极管（如带阻三极管、达林顿三极管等，可通过

型号与普通三极管区分开来）。在两次有数值的测量中，如果黑表笔或红表笔接同一极，则

该极是基极，测量值较小的是集电节，较大的是发射节，因为已判断出基极，对应可以判断

出集电极和发射极。同时可以判断：如果黑表笔接同一极，则三极管是PNP型，如果红表笔

接同一极，则三极管是NPN型；压降为0.6V左右的是硅管，压降为0.2V左右的是锗管。
三、可控硅：
可控硅阳极与阴极及控制极是开路的，据此可以确定阳极管脚和判断可控硅是否击穿。

可控硅控制极和阴极间也是PN节，但是大功率可控硅控制极和阴极间有一个保护电阻，测量

时显示值为电阻上的压降。
四、光耦
光耦的一侧是发光二极管，测量时压降约1V左右，另外一侧是三极管，有的只引出c、e

，测量正反向均截止，如果三个脚都引出，测量特性同上面三极管（多为NPN管）。当用一

个万用表使二极管正向导通，此时用另外一块万用表测三极管c对e导通压降约为0.15V；断

开接二极管的万用表，三极管c对e截止，说明该光耦是好的。